Datta anwitaman (40 Ergebnisse)

Sprache: Englisch
Verlag: Boca Raton: CRC Press, 2015
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Sprache: Englisch
Verlag: Routledge, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Routledge, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Sprache: Englisch
Verlag: Routledge, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2011
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Paperback. Zustand: New. 2011 ed. This book constitutes the proceedings of the Third International Conference on Social Informatics, SocInfo 2011, held in Singapore in October 2011. The 15 full papers, 8 short papers and 13 posters included in this volume were carefully reviewed and selected from 68 full paper and 13 poster subm…issions. The papers are organized in topical sections named: network analysis; eGovernance and knowledge management; applications of network analysis; community dynamics; case studies; trust, privacy and security; peer-production.

Sprache: Englisch
Verlag: Routledge, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics: Third International Conference, SocInfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings (Lecture Notes in Computer Science)
Anwitaman Datta, Stuart Shulman, Baihua Zheng, Shou-De Lin, Aixin Sun, Ee-Peng Lim
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Sprache: Englisch
Verlag: Routledge, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Sprache: Englisch
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Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics : Third International Conference, Socinfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings
Datta, Anwitaman (EDT); Shulman, Stuart (EDT); Zheng, Baihua (EDT); Lin, Shou-de (EDT); Sun, Aixin (EDT)
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Verlag: CRC Press, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Computational Trust Models and Machine Learning
Liu, Xin (Editor)/ Datta, Anwitaman (Editor)/ Lim, Ee-Peng (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Chapman & Hall, 2020
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Social Informatics: Third International Conference, SocInfo 2011, Singapore, October 6-8, 2011, Proceedings: 6984 (Lecture Notes in Computer Science, 6984)
Anwitaman Datta, Stuart Shulman, Baihua Zheng, Shou-De Lin, Aixin Sun, Ee-Peng Lim
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Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Verlag: CRC Press, 2014
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Sprache: Englisch
Verlag: CRC Press, 2014
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 342 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.

Sprache: Englisch
Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Verlag: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Verlag: Apple Academic Press Inc., 2014
Serie: Buch 8 von 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Hardcover
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