Dmitry greenfield (9 Ergebnisse)
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Verlag: Academic Press 2009-02-16 2009
Serie: ISSN, Buch 44 von 77. Buch 44 von 77 - ISSN
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Advances in Imaging and Electron Physics: Selected Problems of Computational Charged Particle Optics: Vol 155
Greenfield, Dmitry/ Monastyrskii, Mikhael/ Hawkes, Peter W. (Editor)
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Advances in Imaging and Electron Physics: Selected Problems of Computational Charged Particle Optics
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Verlag: Elsevier Science & Technology, Academic Press 2009
Serie: ISSN, Buch 44 von 77. Buch 44 von 77 - ISSN
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices…(especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. This monograph summarizes the authors' knowledge and experience acquired over many years in their work on computational charged particle optics. Its main message is that even in this era of powerful computers with a multitude of general-purpose and problem-oriented programs, asymptotic analysis based on perturbation theory remains one of the most effective tools to penetrate deeply into the essence of the problem in question. Englisch.
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Verlag: Elsevier Science & Technology, Academic Press 2009
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Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Advances in Imaging and Electron Physics merges two long-running serials Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. This series features extended articles on the physics of electron devices (espe…cially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science and digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. This monograph summarizes the authors' knowledge and experience acquired over many years in their work on computational charged particle optics. Its main message is that even in this era of powerful computers with a multitude of general-purpose and problem-oriented programs, asymptotic analysis based on perturbation theory remains one of the most effective tools to penetrate deeply into the essence of the problem in question.
