Duin robert p (33 Ergebnisse)
Classification, Parameter Estimation and State Estimation: An Engineering Approach Using MATLAB
Van Der Heijden, Ferdinand; Duin, Robert P.; De Ridder, Dick; Tax, David M. J.
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Structural, Syntactic, and Statistical and Pattern Recogition : Joint Iapr International Workshops Sspr 2002 and Spr 2002, Windsor, Ontario, Canada, August 6-9, 2002 : Proceedings
Caelli, Terry (EDT); Amin, A. (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Kamel, M. (EDT); Ridder, D. De. (EDT)
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Classification, Parameter Estimation and State Estimation: An Engineering Approach Using MATLAB
van der Heijden, Ferdinand, Duin, Robert P., de Ridder, Dick
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Structural, Syntactic, And Statistical Pattern Recognition : Joint IaAPR International Workshops, SSPR 2004 And SPR 2004, Lisbon, Portugal, August 18-20, 2004 Proceedings
Fred, Ana (EDT); Caelli, Terry (EDT); Duin, Robert P. W. (EDT); Campilho, Aurelio (EDT); Ridder, Dick de (EDT)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Neuware - This volume contains all papers presented at SSPR 2004 and SPR 2004, hosted by the Instituto de Telecomunicac oes/Instituto Superior T ecnico, Lisbon, Portugal, August 18 20, 2004. This was the fourth time that the two workshops were held back-to-back. The SSPR was the tenth International Wor…kshop on Structural and Synt- tic Pattern Recognition, and the SPR was the fth International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition. These workshops have traditi- ally been held in conjunction with ICPR (International Conference on Pattern Recognition), and are the major events for technical committees TC2 and TC1, respectively, of the International Association for Pattern Recognition (IAPR). The workshops were closely coordinated, being held in parallel, with plenary talks and a common session on hybrid systems. This was an attempt to resolve thedilemmaofhowto dealwiththeneedfornarrow-focusspecializedworkshops yet accommodate the presentation of new theories and techniques that blur the distinction between the statistical and the structural approaches. A total of 219 papers were received from many countries, with the subm- sion and reviewing processes being carried out separately for each workshop. A total of 59 papers were accepted for oral presentation and 64 for posters. In - dition, four invited speakers presented informative talks and overviews of their research. They were: Alberto Sanfeliu, from the Technical University of Cata- nia, Spain; Marco Gori, from the University of Siena, Italy; Nello Cristianini, from the University of California, USA; and Erkki Oja, from Helsinki University of Technology, Finland, winner of the 2004 Pierre Devijver Award.
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Gebunden. Zustand: New. Provides an approach to pattern recognition in which objects are characterized by relations to other objects instead of by using features or models. This book is intended for researchers and systems designers studying or developing pattern recognition syste.
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In den WarenkorbSingapore, New Jersey - London, World Scientific, 2005, format in-8°, 607 pp, Publisher's illustrated cased binding. Nearly mint copy, no library markings. ISBN 9812565302.
