Gault baptiste (31 Ergebnisse)
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 12,68
EUR 2,27 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, Considéré Comme Chef de l'École Françoise: Précédé d'Un Précis Historique Des Peintres François, Suivie de Notes Inédites Et Authentiques (French Edition)
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: California Books, Miami, FL, USACalifornia Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 15,97
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 13,82
EUR 2,27 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 17,91
EUR 2,27 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, Considéré Comme Chef de l'École Françoise (French Edition)
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: California Books, Miami, FL, USACalifornia Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 21,29
Versand nach gratisVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 19,26
EUR 2,27 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Vie de Nicolas Poussin, Considéré Comme Chef de l'École Françoise: Précédé d'Un Précis Historique Des Peintres François, Suivie de Notes Inédites Et Authentiques (French Edition)
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 16,70
EUR 13,85 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 16,69
EUR 17,35 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, Considéré Comme Chef de l'École Françoise (French Edition)
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 21,65
EUR 13,85 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 18,59
EUR 17,35 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 19,47
EUR 17,35 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, considéré comme chef de l'École françoise -Language: french
Gault De Saint-Germain, Pierre-Marie; Massard, Jean; Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes KönigreichGreatBookPricesUK
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 22,64
EUR 17,35 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Vie de Nicolas Poussin, Considéré Comme Chef de l École Françoise: Précédé d Un Précis Historique Des Peintres François, Suivie de Notes Inédites Et A
Gault de Saint-Germain, Pierre-Marie|Massard, Jean|Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 23,27
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Vie de Nicolas Poussin, Considere Comme Chef de l\ Ecole Francoise
Gault de Saint-Germain, Pierre-Marie|Massard, Jean|Massard, Jean Baptiste Louis
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 26,72
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Atom Probe Microscopy (Springer Series in Materials Science (160))
Gault, Baptiste; Moody, Michael P.; Cairney, Julie M.; Ringer, Simon P.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2012
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: Greenway, Chattanooga, TN, USAGreenway
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Befriedigend
EUR 138,75
EUR 3,45 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Hardcover. Zustand: Good condition. good condition,fast ship.
Atom Probe Microscopy (Springer Series in Materials Science, 160)
Gault, Baptiste; Moody, Michael P.; Cairney, Julie M.; Ringer, Simon P.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 249,55
EUR 13,85 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New. In.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 250,30
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer New York 2012
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: moluna, Greven, , Deutschlandmoluna
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 250,30
EUR 48,99 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Gebunden. Zustand: New.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 313,16
EUR 2,27 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 15 verfügbar
Zustand: New.
Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: preigu, Osnabrück, Deutschlandpreigu
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 256,60
EUR 70,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Atom Probe Microscopy | Baptiste Gault (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Materials Science | xxiv | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489989390 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter…: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Gebraucht - Wie neu
EUR 336,03
EUR 2,27 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 15 verfügbar
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana 2012
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Hardcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 310,11
EUR 63,97 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the developme…nt of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument's capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, DeutschlandAHA-BUCH GmbH
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 310,11
EUR 63,17 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with the de…velopment of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument's capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: Books Puddle, New York, NY, USABooks Puddle
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 402,95
EUR 3,44 VersandVersand innerhalb von USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. pp. 422.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, , Vereinigtes KönigreichMajestic Books
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 4 SternenZustand: Neu
EUR 429,10
EUR 7,52 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Zustand: New. pp. 422.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2012
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalienBrook Bookstore On Demand
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 3 SternenZustand: Neu
EUR 230,32
EUR 6,80 VersandVersand von Italien nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: new. Questo è un articolo print on demand.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItalienBrook Bookstore On Demand
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 3 SternenZustand: Neu
EUR 230,32
EUR 8,00 VersandVersand von Italien nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
Zustand: new. Questo è un articolo print on demand.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana Jun 2014 2014
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Softcover
- Print-on-Demand
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, , DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 299,59
EUR 23,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last de…cade with the development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument's capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes. 420 pp. Englisch.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana Mai 2012 2012
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, , DeutschlandBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 299,59
EUR 23,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade wi…th the development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument's capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy-including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes. 420 pp. Englisch.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Humana Mai 2012 2012
Serie: Springer Series in Materials Science, Buch 39 von 233. Buch 39 von 233 - Springer Series in Materials Science
- Hardcover
- Print-on-Demand
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschlandbuchversandmimpf2000
Verkäufer/-in kontaktierenVerkäufer/-in mit 5 SternenZustand: Neu
EUR 299,59
EUR 60,00 VersandVersand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Atom probe microscopy enables the characterization of materials structure and chemistry in three dimensions with near-atomic resolution. This uniquely powerful technique has been subject to major instrumental advances over the last decade with t…he development of wide-field-of-view detectors and pulsed-laser-assisted evaporation that have significantly enhanced the instrument¿s capabilities. The field is flourishing, and atom probe microscopy is being embraced as a mainstream characterization technique. This book covers all facets of atom probe microscopy¿including field ion microscopy, field desorption microscopy and a strong emphasis on atom probe tomography.Atom Probe Microscopy is aimed at researchers of all experience levels. It will provide the beginner with the theoretical background and practical information necessary to investigate how materials work using atom probe microscopy techniques. This includes detailed explanations of the fundamentals and the instrumentation, contemporary specimen preparation techniques, experimental details, and an overview of the results that can be obtained. The book emphasizes processes for assessing data quality, and the proper implementation of advanced data mining algorithms. Those more experienced in the technique will benefit from the book as a single comprehensive source of indispensable reference information, tables and techniques. Both beginner and expert will value the way that Atom Probe Microscopy is set out in the context of materials science and engineering, and includes references to key recent research outcomes.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 420 pp. Englisch.
