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Hardcover. Zustand: Fine. Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012
ISBN 10: 0470638826 ISBN 13: 9780470638828
Anbieter: Better World Books, Mishawaka, IN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Atomic Force Microscopy
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Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications (eng)
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
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Atomic Force Microscopy
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
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In den WarenkorbZustand: New. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). Num Pages: 488 pages, Illustrations. BIC Classification: PDND; TBN; TG. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 243 x 165 x 29. Weight in Grams: 834. . 2012. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Atomic Force Microscopy Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware.
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Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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