Ho william edt (36 Ergebnisse)
Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Sources of Korean Tradition : From the Sixteenth to the Twentieth Centuries
Ch'Oe, Yong-Ho (EDT); Lee, Peter H. (EDT); Bary, William Theodore De (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2000
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Sources of East Asian Tradition : The Modern Period
De Bary, William Theodore (EDT); Ch'Oe, Yong-Ho (COL); Gluck, Carol (COL); Lufrano, Richard (COL)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2008
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Materials Reliability in Microelectronics III
Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Sources of Korean Tradition : From the Sixteenth to the Twentieth Centuries
Ch'Oe, Yong-Ho (EDT); Lee, Peter H. (EDT); Bary, William Theodore De (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2000
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Sources of Korean Tradition : From the Sixteenth to the Twentieth Centuries
Ch'Oe, Yong-Ho (EDT); Lee, Peter H. (EDT); Bary, William Theodore De (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2000
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Building Strategic Capabilities in Emerging Markets
Cuervo-cazurra, Alvaro (EDT); Newburry, William (EDT); Park, Seung Ho (EDT)
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Building Strategic Capabilities in Emerging Markets
Cuervo-cazurra, Alvaro (EDT); Newburry, William (EDT); Park, Seung Ho (EDT)
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Sources of East Asian Tradition : The Modern Period
De Bary, William Theodore (EDT); Ch'Oe, Yong-Ho (COL); Gluck, Carol (COL); Lufrano, Richard (COL)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2008
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Sources of East Asian Tradition : The Modern Period
De Bary, William Theodore (EDT); Ch'Oe, Yong-Ho (COL); Gluck, Carol (COL); Lufrano, Richard (COL)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2008
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Sources of Korean Tradition : From the Sixteenth to the Twentieth Centuries
Ch'Oe, Yong-Ho (EDT); Lee, Peter H. (EDT); Bary, William Theodore De (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2000
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Rodbell, Kenneth P. (EDT); Filter, William F. (EDT); Frost, Harold J. (EDT); Ho, Paul S. (EDT)
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Multimedia, Computer Graphics and Broadcasting : First International Conference, MulGraB 2009, Held As Part of the Future Generation Information Technology Conference, FGIT 2009 Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009, Proceedings
Slezak, Dominik (EDT); Pissinou, Niki (EDT); Kim, Tai-hoon (EDT); Grosky, William I. (EDT); Shih, Timothy K. (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
Serie: Buch 24 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Global Value Chains and Geopolitical Uncertainty : Disruption and Transformation
Ali, Imran (EDT); Ho, William (EDT); Papadopoulos, Thanos (EDT)
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Materials Reliability in Microelectronics III
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Sources of Korean Tradition : From the Sixteenth to the Twentieth Centuries
Ch'Oe, Yong-Ho (EDT); Lee, Peter H. (EDT); Bary, William Theodore De (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2000
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Building Strategic Capabilities in Emerging Markets
Cuervo-cazurra, Alvaro (EDT); Newburry, William (EDT); Park, Seung Ho (EDT)
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Sources of East Asian Tradition : The Modern Period
De Bary, William Theodore (EDT); Ch'Oe, Yong-Ho (COL); Gluck, Carol (COL); Lufrano, Richard (COL)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2008
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Zustand: New.
Sources of Korean Tradition : From the Sixteenth to the Twentieth Centuries
Ch'Oe, Yong-Ho (EDT); Lee, Peter H. (EDT); Bary, William Theodore De (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2000
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Zustand: New.
Sources of East Asian Tradition : The Modern Period
De Bary, William Theodore (EDT); Ch'Oe, Yong-Ho (COL); Gluck, Carol (COL); Lufrano, Richard (COL)
Sprache: Englisch
Verlag: Columbia University Press, 2008
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EUR 46,34
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Multimedia, Computer Graphics and Broadcasting : First International Conference, MulGraB 2009, Held As Part of the Future Generation Information Technology Conference, FGIT 2009 Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009, Proceedings
Slezak, Dominik (EDT); Pissinou, Niki (EDT); Kim, Tai-hoon (EDT); Grosky, William I. (EDT); Shih, Timothy K. (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
Serie: Buch 24 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Global Value Chains and Geopolitical Uncertainty : Disruption and Transformation
Ali, Imran (EDT); Ho, William (EDT); Papadopoulos, Thanos (EDT)
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EUR 65,01
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De Bary, William Theodore (EDT); Ch'Oe, Yong-Ho (COL); Gluck, Carol (COL); Lufrano, Richard (COL)
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Verlag: Columbia University Press, 2008
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EUR 50,62
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Building Strategic Capabilities in Emerging Markets
Cuervo-cazurra, Alvaro (EDT); Newburry, William (EDT); Park, Seung Ho (EDT)
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EUR 52,80
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Global Value Chains and Geopolitical Uncertainty : Disruption and Transformation
Ali, Imran (EDT); Ho, William (EDT); Papadopoulos, Thanos (EDT)
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EUR 55,54
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Global Value Chains and Geopolitical Uncertainty : Disruption and Transformation
Ali, Imran (EDT); Ho, William (EDT); Papadopoulos, Thanos (EDT)
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EUR 58,88
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Multimedia, Computer Graphics and Broadcasting : First International Conference, MulGraB 2009, Held As Part of the Future Generation Information Technology Conference, FGIT 2009 Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009, Proceedings
Slezak, Dominik (EDT); Pissinou, Niki (EDT); Kim, Tai-hoon (EDT); Grosky, William I. (EDT); Shih, Timothy K. (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2009
Serie: Buch 24 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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EUR 68,19
EUR 17,79 VersandVersand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Multimedia, Computer Graphics and Broadcasting : First International Conference, MulGraB 2009, Held As Part of the Future Generation Information Technology Conference, FGIT 2009 Jeju Island, Korea, December 10-12, 2009, Proceedings
Slezak, Dominik (EDT); Pissinou, Niki (EDT); Kim, Tai-hoon (EDT); Grosky, William I. (EDT); Shih, Timothy K. (EDT)
Sprache: Englisch
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Serie: Buch 24 von 578 - Communications in Computer and Information Science
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Low Dielectric Constant Materials for Ic Applications
Ho, Paul S. (EDT); Leu, Jihperng (EDT); Lee, Wei William (EDT)
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Low Dielectric Constant Materials for Ic Applications
Ho, Paul S. (EDT); Leu, Jihperng (EDT); Lee, Wei William (EDT)
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