Marienfeld daniel (11 Ergebnisse)
New Methods Of Concurrent Checking (frontiers In Electronic Testing)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 20 von 40. Buch 20 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
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New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
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Verlag: Springer, 2008
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New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
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Verlag: Springer, 2008
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New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing, 42)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 20 von 40. Buch 20 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
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New Methods of Concurrent Checking
Goessel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2008
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- Hardcover
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USAGreatBookPrices
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New Methods of Concurrent Checking
Gossel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 20 von 40. Buch 20 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing, 42)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
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Verlag: Springer, 2010
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New Methods of Concurrent Checking
Gossel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
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Verlag: Springer, 2010
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New Methods of Concurrent Checking
Goessel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
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Verlag: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 20 von 40. Buch 20 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 20 von 40. Buch 20 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Netherlands, 2010
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