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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Verlag: Plenum Press, New York, NY, 1969
Anbieter: Book Bear, West Brookfield, MA, USA
Verbandsmitglied: SNEAB
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Cloth. Zustand: Very Good. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. 194 pp. Tightly bound. Corners not bumped. Text is free of markings. Owner's name stamp on front end paper. Light foxing top fore-edge.
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In den WarenkorbSoftcover. Zustand: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Couverture différente. Edition 1969. Tome 2. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Different cover. Edition 1969. Volume 2. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Verlag: Plenum Press, 1969
Anbieter: Mythos Center Books, Frontenac, MN, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Hardcover. Zustand: Used: Very Good. 1st ed. Cloth, 194pp, vg. Progress In Analytical Chemistry, Volume 2.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Verlag: Plenum Publishing, 1969
Anbieter: George Cross Books, Lexington, MA, USA
Verbandsmitglied: IOBA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. First ition edition. Good/Good (23493) - Hardcover, good condition, w. ltly compressed spine. badly bumped r. top corner, 3 ltly bumped corners. Damp stain on r. brd. Creaky fr. hinge. Ltly tanned p. edges, eps. clean, tight, unmarked. Dj good, some lt soil, somewhat rubbed. Ltly tanned sp. damps stain, some lt edgwr. chip at top fr. 194.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (Progress in Analytical Chemistry)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPF. Zustand: New.
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Zustand: New. pp. 208.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 205 pages. 9.01x5.98x0.44 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Physical Measurement and Analysis of Thin Films | E. M. Murt | Taschenbuch | Progress in Analytical Chemistry | xi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781489959126 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering.
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The Definitive Guide Hadoop YARN(Chinese Edition)
Sprache: Chinesisch
Verlag: Machinery Industry Press, 2015
ISBN 10: 7111491815 ISBN 13: 9787111491811
paperback. Zustand: New. Language:Chinese.The Definitive Guide Hadoop YARN.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 208 23:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer US Dez 2013, 2013
ISBN 10: 1489959122 ISBN 13: 9781489959126
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware 208 pp. Englisch.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 208.
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Springer Book Archives.
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Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10: 1489959122 ISBN 13: 9781489959126
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 208 pp. Englisch.
