Ogawa s (121 Ergebnisse)
Over here: Modernism, the first exile, 1914-1919 : David Winton Bell Gallery, Brown University, Providence, Rhode Island, April 15-May 29, 1989
BRANDON, Robert, Kermit S. Champa, Kerry B. Herman & David C. Ogawa, Nancy R. Versaci, Judith E. Tolnick, Timothy Robert Rodgers, Patricia McDonnell, Jenny Anger & DAvid Brenneman, and James M. Baker.
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Over Here: Modernism, The First Exile 1914 - 1919
BRANDON, Robert, Kermit S. Champa, Kerry B. Herman & David C. Ogawa, Nancy R. Versaci, Judith E. Tolnick, Timothy Robert Rodgers, Patricia McDonnell, Jenny Anger & DAvid Brenneman, and James M. Baker
Sprache: Englisch
Verlag: David Winton Bell Gallery, Brown University, Providence, RI, 1989
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First Edition. First edition. Softcover. 225 pages. Exhibition catalog for a show that ran April 15 through May 29, 1989. Features essays by Robert Brandfon, Kermit S. Champa, Kerry B. Herman & David C. Ogawa, Nancy R. Versaci, Judith E. Tolnick, Timothy Robert Rodgers, Patricia McDonnell, Jenny Anger & David Brenneman, and James M. Baker. Includes some black and white illustrations. A near fine copy in wrappers.…
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In den Warenkorbpp. 269-294,[8], many photos on 4 plates, 5 figs., refs. Orig. wrappers.
Materials, Technology and Reliability for Advanced Interconnects and Low-k Dielectrics
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AN UNLIKELY REVOLUTIONARY Matsuo Takabuki and the Making of Modern Hawai`i - A Memoir.
TAKABUKI, Matsuo, with OGAWA, Dennis, GRANT, Glen and SUR, Wilma (assistants).
Verlag: University of Hawaii Press, 1998., 1998
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book highlights important achievements and challenges in advanced interconnects and low-k dielectrics as employed in the microelectronics industry. The replacement of Al alloys with Cu along with the introduction of new barrier materials to protect Cu from chemical attack, and the utilization of new dielectric materials with a lower relative dielectric constant k than SiO2 in multilevel metallization structures of increasing complexity, are the major themes of evolution in this field. Invited reviews illustrate the significant progress that has been achieved as well as the challenges that remain. Contributed papers presented by researchers from different countries demonstrate progress on current topics using a truly multidisciplinary approach.…
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