Queisser h t (19 Ergebnisse)
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Hardcover. Zustand: gut. 1977. X-Ray Optics - Applications to Solids In deutscher Sprache. pages.
Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2003
Serie: Buch 79 von 233 - Springer Series in Materials Science
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Tsuda, Nobuo (EDT); Nasu, K.; Atsushi, F.; Siratori, K.; Cardona, M. (EDT); Fulde, P. (EDT); Klitzing, Kai Von (EDT); Merlin, R. (EDT); Queisser, Hans J. (EDT); Stormer, H. (EDT)
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Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
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Verlag: Springer, 2003
Serie: Buch 79 von 233 - Springer Series in Materials Science
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Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
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Serie: Buch 79 von 233 - Springer Series in Materials Science
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Point Defects in Semiconductors and Insulators : Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
Spaeth, Johann-Martin; Overhof, H.; Queisser, Hans-joachim (EDT)
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Serie: Buch 79 von 233 - Springer Series in Materials Science
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Introduction: Structure and structuring of solids.- High brillance X-ray sources.- X-ray lithography.- X-ray and neutron interferometry.- Section topography.- Live topography.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 244 pp. Englisch. …
