Schoitsch e (18 Ergebnisse)
Computer Safety, Reliability, and Security : 36th International Conference, SAFECOMP 2017 Trento, Italy, September 13-15, 2017 Proceedings
Tonetta, Stefano (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : 36th International Conference, SAFECOMP 2017 Trento, Italy, September 13-15, 2017 Proceedings
Tonetta, Stefano (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : Safecomp 2016 Workshops, Proceedings
Skavhaug, Amund (EDT); Guiochet, Jérémie (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : Safecomp 2016 Workshops, Proceedings
Skavhaug, Amund (EDT); Guiochet, Jérémie (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : 36th International Conference, SAFECOMP 2017 Trento, Italy, September 13-15, 2017 Proceedings
Tonetta, Stefano (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability and Security. Safecomp 2024 Workshops : Decsos, Sassur, Toasts and Waise, Florence, Italy, September 17, 2024, Proceedings
Ceccarelli, Andrea (EDT); Trapp, Mario (EDT); Bondavalli, Andrea (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : 36th International Conference, SAFECOMP 2017 Trento, Italy, September 13-15, 2017 Proceedings
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Computer Safety, Reliability and Security. Safecomp 2024 Workshops : Decsos, Sassur, Toasts and Waise, Florence, Italy, September 17, 2024, Proceedings
Ceccarelli, Andrea (EDT); Trapp, Mario (EDT); Bondavalli, Andrea (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability and Security. Safecomp 2024 Workshops : Decsos, Sassur, Toasts and Waise, Florence, Italy, September 17, 2024, Proceedings
Ceccarelli, Andrea (EDT); Trapp, Mario (EDT); Bondavalli, Andrea (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security. Safecomp 2021 Workshops : Decsos, Mapsod, Sepsevops, Usdai, and Waise, York, Uk, September 7-10, 2021, Proceedings
Habli, Ibrahim (EDT); Sujan, Mark (EDT); Gerasimou, Simos (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security. Safecomp 2021 Workshops : Decsos, Mapsod, Sepsevops, Usdai, and Waise, York, Uk, September 7-10, 2021, Proceedings
Habli, Ibrahim (EDT); Sujan, Mark (EDT); Gerasimou, Simos (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security. Safecomp 2021 Workshops : Decsos, Mapsod, Sepsevops, Usdai, and Waise, York, Uk, September 7-10, 2021, Proceedings
Habli, Ibrahim (EDT); Sujan, Mark (EDT); Gerasimou, Simos (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : Safecomp 2016 Workshops, Proceedings
Skavhaug, Amund (EDT); Guiochet, Jérémie (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT)
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Computer Safety, Reliability, and Security : Safecomp 2016 Workshops, Proceedings
Skavhaug, Amund (EDT); Guiochet, Jérémie (EDT); Bitsch, Friedemann (EDT); Schoitsch, Erwin (EDT)
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Mikroelektronik 87: Berichte der Informationstagung ME 87 (German Edition)
Hoffmann, G.; Holzmann, D.; Jäger, F.; Riedling, K.; Schwuttke, G. H.; Pandelisev, K. A.; White, R. C.; Holzmann, H.; Kausel, W.; Nanz, G.; Selberherr, S.; Pötzl, H.; Leopold, H.; Röhrer, R.; Winkler, G.; Thurner, M.; Seiner, K.; Tritremmel, W.; Walther, G.; Schoitsch, Erwin; Hertl, S.; Schaffar, G.; Schmidt, K.; Steinbrecher, H.; Voggenberger, F.; Windischhofer, W.; Turba, R.; Grabner, J.; Aberl, H.; Seifert, F.; Buschbeck, F.; Wallisch, K.; Eichtinger, Ch.; Wach, P.; Bittinger, W.; Kainz, A.; Jestl, M.; Beinstingl, W.; Berthold, K.; Köck, A.; Gornik, E.; Kloiber, G.; Kreid, F.; Schröcker, K. P.; Schrödl, M.; Brazda, E.; Niedrist, G.; Dietz, K.; Fey, P.; Frenkenberger, S.; Furtner, M.; Dejneka, B.; Goiser, A.; Sust, M.; Kowatsch, M.; Jorde, Ch.; Thallinger, G. G.; Mothwurf, E.; Schubert, E.; Steger, J.; Trzeba, E.; Awramow, I.; Pucher, R.; Auer, L. M.; Schuy, S.; Schima, H.; Huber, L.; Prodinger, A.; Schmallegger, H.; Thoma, H.; Stöhr, H.; Mayr, W.; Steiner, R.; Wiedenbauer, O.; List, G.; Wießpeiner, G.; ...
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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Mikroelektronik 89: Berichte der Informationstagung ME 89 (German Edition)
Lechner, A.; Schrödl, M.; Weiß, R.; Brenner, E.; Seifter, P.; Kosta, W.; Raimann, G.; Furtner, F.; Kirchner, D.; Bühler, H.; Nemsic, B.; Jerono, W.; Horak, G.; Messaros, R.; Seifert, F.; Fey, P.; Goßlau, A.; Gottwald, A.; Gáspár-Ruppert, W.; Kreuzgruber, P.; Scholtz, A. L.; Smutny, W.; Koschnick, P.; Schulz, W.; Schwarze, R.; Fröhling, Peter W.; Casari, Robert; Fugger, E.; Spinadel, P.; Niwinski, J.; Prager, L.; Schauer, E.; Rigler, G.; Moshammer, K.; Arnold, H.; Pribyl, W.; Röhrer, R.; Halang, W. A.; Barbier, K.; Schiestl, F.; Blind, C.; Kamper, H.; Krenn, A.; Fleischmann, H.; Schlager, R.; Sturm, L.; Retti, J.; Rohringer, S.; Schreiner, H.; Fleischanderl, G.; Höllinger, W.; Fasching, R.; Stonawski, G.; Huber, H.; Jaeger, J.; Stadlbauer, H.; Weissgärber, R.; Reczek, W.; Terletzki, H.; Bajenescu, Titu I.; Grechenig, T.; Heinze, Ch.; Purgathofer, P.; Kohl, J.; Schoitsch, E.; Stöckler, G.; Immitzer, F.; Kasatschinskij, W.; Eier, R.; Neumann, R.; Buschbeck, F.; Riedl-Bratengeyer, E.; Hornbachner, D.; Güttler,...
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Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes KönigreichRia Christie Collections
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