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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science, 382)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (Communications in Computer and Information Science)
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Vlsi Design and Test : 17th International Symposium, Vdat 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 2013 edition. 396 pages. 9.50x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI Design and Test | 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings | Manoj Singh Gaur (u. a.) | Taschenbuch | Communications in Computer and Information Science | xvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642420238 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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VLSI Design and Test : 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.
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VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013, Jaipur, India, July 27-30, 2013, Proceedings (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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VLSI Design and Test
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg Dez 2013, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology. 404 pp. Englisch.
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VLSI Design and Test
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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VLSI Design and Test
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 406.
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VLSI Design and Test
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss.
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VLSI Design and Test
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Dez 2013, 2013
ISBN 10: 3642420230 ISBN 13: 9783642420238
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book constitutes the refereed proceedings of the 17th International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2013, held in Jaipur, India, in July 2013. The 44 papers presented were carefully reviewed and selected from 162 submissions. The papers discuss the frontiers of design and test of VLSI components, circuits and systems. They are organized in topical sections on VLSI design, testing and verification, embedded systems, emerging technology.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 404 pp. Englisch.
