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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon: Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposia Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Anbieter: GuthrieBooks, Spring Branch, TX, USA
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Hardcover. Zustand: Very Good. Ex-Library hardcover in very nice condition with all the usual markings and attachments.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Zustand: New.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy (Paperback or Softback)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press 11/23/2006, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: BargainBookStores, Grand Rapids, MI, USA
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Paperback or Softback. Zustand: New. Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy. Book.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Zustand: New.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Hardcover. Zustand: Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2012. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 2012. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press 2006-11-23, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon: Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U.S.A. (Materials Research Society Symposia Proceedings)
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Anbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USA
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Hardcover. Zustand: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
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In den WarenkorbZustand: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . .
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Characterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
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CHARACTERIZATION OF HIGH TC MATERIALS AND DEVICES BY ELECTRON MICROSCOPY
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Zustand: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen. Num Pages: 408 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 21. Weight in Grams: 650. . 2006. Illustrated. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Zustand: Bon. Ancien livre de bibliothèque avec équipements. Edition 2012. Tome 1. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Edition 2012. Volume 1. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521031702 ISBN 13: 9780521031707
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is a clear account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Written by leading experts, this compilation provides a comprehensive review of scanning electron microscopy, transmission electron microscopy and scanning transmission electron microscopy, together with details of each technique and its applications. Introductory chapters cover the basics of high-resolution transmission electron microscopy, including a chapter devoted to specimen preparation techniques, and microanalysis by scanning transmission electron microscopy. Ensuing chapters examine identification of superconducting compounds, imaging of superconducting properties by low-temperature scanning electron microscopy, imaging of vortices by electron holography and electronic structure determination by electron energy loss spectroscopy. The use of scanning tunnelling microscopy for exploring surface morphology, growth processes and the mapping of superconducting carrier distributions is discussed. Final chapters consider applications of electron microscopy to the analysis of grain boundaries, thin films and device structures. Detailed references are included.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2015
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Zustand: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 406 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors.
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Oxygen, Carbon, Hydrogen and Nitrogen in Crystalline Silicon Symposiumheld December 2-5, 1985, Boston, Massachusetts, U. S. A.
Sprache: Englisch
Verlag: Materials Research Society, Warrendale, PA, 1986
ISBN 10: 0931837243 ISBN 13: 9780931837241
Anbieter: True Oak Books, Highland, NY, USA
Verbandsmitglied: IOBA
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Hardcover. Zustand: Good+. Zustand des Schutzumschlags: No Dust Jacket. Materials Research Society Symposia Proceedings; 6.5 X 1.75 X 9.5 inches; 579 pages; graphs. Ex-Library copy with usual identifiers. Minor yellowing on pages. Very Good condition otherwise. No other noteworthy defects. No markings on text pages. ; - Your satisfaction is our priority. We offer free returns and respond promptly to all inquiries. Your item will be carefully cushioned in bubble wrap and securely boxed. All orders ship on the same or next business day. Buy with confidence. 1st Edition (Unstated); No Printing Stated.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . .
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Internationale AusgabeCharacterization Of High Tc Materials And Devices By Electron Microscopy
Anbieter: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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Scanning Transmission Electron Microscopy: Imaging and Analysis
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Handbook of Nanoscopy, 2 Volume Set
Anbieter: Salish Sea Books, Bellingham, WA, USA
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Hardcover. Zustand: Fine. 3527317066 ** Complete 2-Volume Set **; Like New; Hardcover; Close to new condition; Covers are still glossy with "straight" edge-corners; Unblemished textblock edges; The endpapers and all text pages of both volumes are bright and unmarked; Binding is tight with a straight spine; This book will be stored and delivered in a sturdy cardboard box with foam padding; Medium Format (8.5" - 9.75" tall); Heavy (6.8 lbs); White, blue, and orange covers with title in black lettering; 2012, Wiley-VCH Publishing; 1450 pages; "Handbook of Nanoscopy," by Gustaaf van Tendeloo, et al.
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Characterization of High Tc Materials and Devices by Electron Microscopy
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2000
ISBN 10: 052155490X ISBN 13: 9780521554909
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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In den WarenkorbZustand: New. A comprehensive account of the application of electron-based microscopies to the study of high-Tc superconductors. Editor(s): Browning, Nigel D.; Pennycook, Stephen J. Num Pages: 406 pages, 267 b/w illus. 3 tables. BIC Classification: PHFC; PHK; TGM. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 247 x 174 x 24. Weight in Grams: 1125. . 2000. Illustrated. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
