Way kuo u a (3 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Reliability, Yield, and Stress Burn-In | A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development | Way Kuo (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2014 | Springer Us | EAN 9781461375968 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Heidelberg, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, buchhandel-buch[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Optimal Reliability Design | Fundamentals and Applications | Way Kuo (u. a.) | Taschenbuch | Kartoniert / Broschiert | Englisch | 2006 | Cambridge University Press | EAN 9780521031912 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand. …
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Buch. Zustand: Neu. Reliability, Yield, and Stress Burn-In | A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development | Way Kuo (u. a.) | Buch | xxvi | Englisch | 1998 | Springer US | EAN 9780792381075 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. …
