9780123739735 - system-on-chip test architectures: nanometer design for testability (volume .) (systems on silicon, volume .) von wang, laung-terng; stroud, charles e.; touba, nur a. (7 Ergebnisse)

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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume . (Systems on Silicon)
Laung-Terng Wang
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan Kaufmann 2007-12-28, 2007
012373973X / 9780123739735
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System-on-Chip Test Architectures
Touba Nur A. Wang Laung-Terng Stroud Charles E.
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier, 2007
012373973X / 9780123739735
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System-On-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability
Wang, Laung-terng/ Stroud, Charles/ Touba, Nur
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan Kaufmann Pub, 2007
012373973X / 9780123739735
- Hardcover
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System-on-Chip Test Architectures
Nur A. Touba Laung-Terng Wang Charles E. Stroud
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier, 2007
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System-on-Chip Test Architectures
Touba Nur A. Wang Laung-Terng Stroud Charles E.
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier, 2007
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability (Volume .) (Systems on Silicon, Volume .)
Wang, Laung-Terng
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan Kaufmann, 2007
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System-on-Chip Test Architectures: Nanometer Design for Testability: Volume .
Laung-Terng Wang
Sprache: Englisch
Verlag: Morgan Kaufmann, 2007
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