9780471511045 - semiconductor material and device characterization von schroder, dieter k (11 Ergebnisse)
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- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1990
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Anbieter: Books Tell You Why - ABAA/ILAB, Summerville, SC, USABooks Tell You Why - ABAA/ILAB
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Hardcover. Zustand: Near Fine. Near Fine. First Edition; First Printing. A handsome first edition/first printing in Near Fine condition with previous owner's signature to front flyleaf in alike dust-jacket with light edgewear. [i-iv] v-vii [viii] ix-xv [xvi-xviii], 1-599 [600-6] pages; Book is written for graduate students and i…ndustrial researchers who want to learn more about the wide spectrum of measurement methods found in the modern semiconductor industry; 8vo.
- Hardcover
Anbieter: The Book Spot, Sioux Falls, MN, USAThe Book Spot
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 600 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Keine Beschreibung verfügbar.
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Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, DeutschlandBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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Hardcover. Zustand: gut. 1990. Semiconductor Material and Device Characterization In englischer Sprache. pages.
