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Book by Schroder Dieter K
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Reseña del editor:
This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.
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- VerlagJohn Wiley & Sons Inc
- Erscheinungsdatum1990
- ISBN 10 0471511048
- ISBN 13 9780471511045
- EinbandTapa dura
- Anzahl der Seiten618
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SEMICONDUCTOR MATERIAL AND DEVIC
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