Semiconductor Material and Device Characterization - Hardcover

Schroder, Dieter K

 
9780471511045: Semiconductor Material and Device Characterization
Hardcover
ISBN 10: 0471511048 ISBN 13: 9780471511045
Verlag: John Wiley & Sons, 1990

Inhaltsangabe

This detailed sourcebook provides an up-to-date description and unified treatment of the characterization techniques used in the semiconductor industry. It covers electrical, optical, electron- beam, ion-beam, X-ray and gamma ray methods. This information, until now scattered in journals and review papers, is presented in a unified manner with over 1300 references. It is also a valuable reference book on characterization methods.

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Verlag
John Wiley & Sons
Erscheinungsdatum
1990
Sprache
Englisch
ISBN 10 
0471511048
ISBN 13 
9780471511045
Einband
Gebundene Ausgabe
Anzahl der Seiten
600
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Nicht verfügbar
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