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9780471624639 - Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques von Bardell, Paul H.; McAnney, W. H.; Savir, J. (20 Ergebnisse)
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Anbieter: Bay State Book Company, North Smithfield, RI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: good. The book is in good condition with all pages and cover intact, including the dust jacket if originally issued. The spine may show light wear. Pages may contain some notes or highlighting, and there might be a "From the library of" label. Boxed set packaging, shrink wrap, or included media like CDs may be missing.
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hardcover. Zustand: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Built-In Test For VLSI: Pseudorandom Techniques.
Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
gebundene Ausgabe. Zustand: Gut. 354 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten wissenschaftlichen Bibliothek und trägt die entsprechenden Kennzeichnungen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); Schnitt und Einband sind etwas staubschmutzig; der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. Text in ENGLISCHER Sprache! Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 650.
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Hardcover. Zustand: new. New Copy. Customer Service Guaranteed.
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Built In Test for VLSI
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 222,09
EUR 5,79 Versand
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In den WarenkorbHRD. Zustand: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 232,38
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In den WarenkorbZustand: New.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques (eng)
Anbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
Verkäuferbewertung 3 von 5 Sternen
EUR 221,56
EUR 6,80 Versand
Versand von Italien nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: new.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 220,38
EUR 17,31 Versand
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In den WarenkorbZustand: New.
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Built In Test for VLSI: Pseudorandom Techniques
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 237,70
EUR 13,82 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. In.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 263,74
EUR 2,27 Versand
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In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Built-In Test for Vsli : Pseudorandom Techniques
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 264,17
EUR 17,31 Versand
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In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Built In Test for VLSI
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 294,29
EUR 7,50 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 3 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. pp. 368.
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Zustand: New. pp. 368.
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EUR 260,31
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and stud.
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Built-in Test for Very Large Scale Integration
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 301,19
EUR 10,50 Versand
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In den WarenkorbZustand: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGMT; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Builtin Pseud Test of Digit Cir)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 342,99
EUR 14,42 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 368 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Built-in Test for Very Large Scale Integration
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 377,35
EUR 9,01 Versand
Versand innerhalb von USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. Num Pages: 368 pages, Ill. BIC Classification: TGMT; TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 240 x 181 x 26. Weight in Grams: 678. . 1987. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Built in Test for VLSI : Pseudorandom Techniques
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing.
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Built In Test for VLSI (Hardcover)
Sprache: Englisch
Verlag: John Wiley & Sons Inc, New York, 1987
ISBN 10: 0471624632 ISBN 13: 9780471624639
Anbieter: CitiRetail, Stevenage, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe Print-on-Demand
EUR 253,11
EUR 42,69 Versand
Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: new. Hardcover. This handbook provides ready access to all of the major concepts, techniques, problems, and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. Until now, the literature in this area has been widely scattered, and published work, written by professionals in several disciplines, has treated notation and mathematics in ways that vary from source to source. This book opens with a clear description of the shortcomings of conventional testing as applied to complex digital circuits, revewing by comparison the principles of design for testability of more advanced digital technology. Offers in-depth discussions of test sequence generation and response data compression, including pseudorandom sequence generators; the mathematics of shift-register sequences and their potential for built-in testing. Also details random and memory testing and the problems of assessing the efficiency of such tests, and the limitations and practical concerns of built-in testing. Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Built In Test for VLSI Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Builtin Pseud Test of Digit Cir)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 320,68
EUR 14,42 Versand
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. 368 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
