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9780521024457 - Photo-induced Defects Semiconductrs (Cambridge Studies in Semiconductor Physics And Microelectronic Engineering, 4, Band 4) von Redfield, David (16 Ergebnisse)
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Photoinduced Defects in Semiconductors.
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 1996
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
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Photo-induced Defects Semiconductrs (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Labyrinth Books, Princeton, NJ, USA
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4) (Volume 0)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Photo-induced Defects Semiconductrs: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press 2008-08-21, 2008
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Photo-induced Defects Semiconductrs: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2008
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Series Editor(s): Ahmad, Haroon; Pepper, Michael; Broers, Alec. Series: Cambridge Studies in Semiconductor Physics & Microelectronic Engineering. Num Pages: 232 pages, 106 b/w illus. BIC Classification: PHK; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 229 x 152 x 13. Weight in Grams: 350. . 2008. 1st Edition. paperback. . . . .
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Photo-induced Defects Semiconductrs: 4 (Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic Engineering, Series Number 4)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Zustand: New. A thorough review of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Series Editor(s): Ahmad, Haroon; Pepper, Michael; Broers, Alec. Series: Cambridge Studies in Semiconductor Physics & Microelectronic Engineering. Num Pages: 232 pages, 106 b/w illus. BIC Classification: PHK; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 229 x 152 x 13. Weight in Grams: 350. . 2008. 1st Edition. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Such comparatively long-lived (or metastable) defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices. After an introductory discussion of metastable defects, the properties of DX and EL2 centres in III-V compounds are presented. Additional crystalline materials are also dealt with, before a detailed description is given of the properties and kinetics of photo-induced defects in amorphous semiconductors. The book closes with an examination of the effects of photo-induced defects in a range of practical applications. Throughout, unifying concepts and models are stressed, and the book will be of great use to graduate students and researchers interested in the physics and materials science of semiconductors.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 1st edition. 217 pages. 8.75x6.00x0.50 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 232 2:B&W 6 x 9 in or 229 x 152 mm Perfect Bound on Creme w/Gloss Lam.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press CUP, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Zustand: New. Print on Demand pp. 232.
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Photo-induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 232.
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Photo-induced Defects in Semiconductors (Paperback)
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
Anbieter: CitiRetail, Stevenage, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: new. Paperback. This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. Such comparatively long-lived (or metastable) defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices. After an introductory discussion of metastable defects, the properties of DX and EL2 centres in IIIV compounds are presented. Additional crystalline materials are also dealt with, before a detailed description is given of the properties and kinetics of photo-induced defects in amorphous semiconductors. The book closes with an examination of the effects of photo-induced defects in a range of practical applications. Throughout, unifying concepts and models are stressed, and the book will be of great use to graduate students and researchers interested in the physics and materials science of semiconductors. This is the first book to give a complete overview of the properties of deep-level, localized defects in semiconductors. These metastable defects exhibit complex interactions with the surrounding material, and can significantly affect the performance and stability of certain semiconductor devices. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Photo-Induced Defects in Semiconductors
Buch 2 von 2: Cambridge Studies in Semiconductor Physics and Microelectronic EngineeringSprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2006
ISBN 10: 0521024455 ISBN 13: 9780521024457
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