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9780521158596 - Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications (16 Ergebnisse)
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Focused Ion Beam Systems
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press CUP, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Zustand: New. pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Focused Ion Beam Systems
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Verlag: Cambridge University Press, 2011
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Focused Ion Beam Systems
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Focused Ion Beam Systems (Paperback)
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: new. Paperback. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Focused Ion Beam Systems
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
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Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications
Sprache: Englisch
Verlag: Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Taschenbuch. Zustand: Neu. Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications | Nan Yao | Taschenbuch | Englisch | 2010 | Cambridge University Press | EAN 9780521158596 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
