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Electrothermal Analysis of VLSI Systems
Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Yi-Kan Cheng; Ching-Han Tsai; Chin-Chi Teng; Sung-Mo (Steve) Kang
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Sung-Mo (Steve) Kang Chin-Chi Teng Ching-Han Tsai Yi-Kan Cheng
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Zustand: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).… Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . .
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analy…sis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Zustand: New. Addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. This book discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).… Num Pages: 233 pages, 36 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJF; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 234 x 156 x 14. Weight in Grams: 514. . 2000. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power an…alysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration). Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis. Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.
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Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. It discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires. The authors present… three important applications of VLSI electro.
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems.Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (includi…ng power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis.Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 240 pp. Englisch.
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This useful book addresses electrothermal problems in modern VLSI systems. It discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires. The authors present three important applications of… VLSI electrothermal analysis: temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement, and temperature-driven power and timing analysis. 240 pp. Englisch.
