9780792386698 - design for at-speed test, diagnosis and measurement (frontiers in electronic testing, 15, band 15) (28 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Hardcover
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
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Sprache: Englisch
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1999
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Sprache: Englisch
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Sprache: Englisch
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Verlag: Springer 1999
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Verlag: Springer 1999
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Verlag: Kluwer Academic Publishers 1999
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Zustand: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): N…adeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . .
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Copernicus 1999
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board…and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers 1999
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Zustand: New. Offers practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as at the board and systems levels. This book contains a complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design. Editor(s): N…adeau-Dostie, Benoit. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 256 pages, biography. BIC Classification: TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (XV) Technical / Manuals. Dimension: 254 x 178 x 15. Weight in Grams: 670. . 1999. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US Sep 1999 1999
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well…as at the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted. 260 pp. Englisch.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the…silicon level as well as a.
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Verlag: Copernicus 1999
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Buch. Zustand: Neu. Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement | Benoit Nadeau-Dostie | Buch | xvii | Englisch | 1999 | Copernicus | EAN 9780792386698 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Deman…d.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Copernicus Sep 1999 1999
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 37 von 40. Buch 37 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement is the first book to offer practical and proven design-for-testability (DFT) solutions to chip and system design engineers, test engineers and product managers at the silicon level as well as a…t the board and systems levels. Designers will see how the implementation of embedded test enables simplification of silicon debug and system bring-up. Test engineers will determine how embedded test provides a superior level of at-speed test, diagnosis and measurement without exceeding the capabilities of their equipment. Product managers will learn how the time, resources and costs associated with test development, manufacture cost and lifecycle maintenance of their products can be significantly reduced by designing embedded test in the product. A complete design flow and analysis of the impact of embedded test on a design makes this book a `must read' before any DFT is attempted.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 260 pp. Englisch.
