9780792390589 - hierarchical modeling for vlsi circuit testing (the springer international series in engineering and computer science, 89, band 89) von bhattacharya, debashis; hayes, john p. (13 Ergebnisse)
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Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Test generation is one of the most difficult tasks facing the designer of complex VLSI-based digital systems. Much of this difficulty is attributable to the almost universal use in testing of low, gate-level c…ircuit and fault models that predate integrated .
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