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![Bild des Verkäufers für Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control. Proceedings of a conference held 28-29 September 1993 Monterey, California. [= Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52]. zum Verkauf von Antiquariat Fluck](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md13984551541.jpg)
Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control. Proceedings of a conference held 28-29 September 1993 Monterey, California. [= Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52].
Verlag: Bellingham SPIE Optical Engineering Press, 1994
ISBN 10: 0819413631 ISBN 13: 9780819413635
Anbieter: Antiquariat Fluck, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Original-Leinwand; kl. 4°; x 358 Seiten. Gutes bis sehr gutes Exemplar. Sprache: Englisch Critical Reviews of Optical Science and Technology Volume CR52. 950 gr.
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Handbook of Critical Dimension Metrology and Process Control: Proceedings of a Conference Held 28-29 September 1993 Monterey, California (Critical Reviews of Optical Science & Technology)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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