Isbn: 9783540434436 - anomalous x-ray scattering for materials characterization: atomic-scale structure determination (springer tracts in modern physics, 179, band 179) (9 Ergebnisse)
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Gebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book is the first one on anomalous X-ray scatteringThis book is the first one on anomalous X-ray scatteringIncludes supplementary material: sn.pub/extrasThe production of multi layered thin films with sufficient reliability is a k.…
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