ISBN: 9783848400355 - surface roughness study by atomic force microscopy: surface roughness-practical example (6 Ergebnisse)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Surface Roughness Study by Atomic Force Microscopy | Surface Roughness-Practical Example | [.] Sayeed (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | LAP Lambert Academic Publishing | EAN 9783848400355 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu. …
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Taschenbuch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science and nano-technology. The AFM is capable of measuring nanometer scale images of insulating surfaces with thickness as well as measuring three dimensional images of surfaces and studying the topography. It is very suitable for biological system to determine substrate roughness analysis. The chitinous materials that mean microbiological matter are imaged for determining the surface roughness and interaction force of microbial surfaces by AFM.…
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Autor/Autorin: Sayeed Md.AbuMd.Abu Sayeed has completed his Bachelor of science in Electrical & Electronic Engineering from Khulna University of Engineering & Technology,Bangladesh.AFM is becoming a key technique in many fields of nano-science .…
