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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Advanced Test Methods for SRAMs | Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies | Alberto Bosio (u. a.) | Taschenbuch | xv | Englisch | 2014 | Humana | EAN 9781489983145 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York, 2014
ISBN 10: 1489983147 ISBN 13: 9781489983145
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Advanced Test Methods for Srams : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
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Advanced Test Methods for SRAMs : Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., 2014
ISBN 10: 1489983147 ISBN 13: 9781489983145
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback / softback. Zustand: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
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Advanced Test Methods for Srams: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book. 171 pp. Englisch.
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Advanced Test Methods for SRAMs
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book. 188 pp. Englisch.
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Advanced Test Methods for SRAMs
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Advanced Test Methods for SRAMs
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
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Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for.
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Advanced Test Methods for SRAMs
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US, Springer New York Sep 2014, 2014
ISBN 10: 1489983147 ISBN 13: 9781489983145
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Memories are particularly prone to defects since they exploit the technology limits to get the highest density. This book is an invaluable guide to the testing and diagnostics of the latest generation of SRAM, one of the most widely applied types of memory. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called 'static faults,' but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies. These new fault models, referred to as 'dynamic faults', are not covered by classical test solutions and require the dedicated test sequences presented in this book.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 188 pp. Englisch.
