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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 55,68
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 62,44
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 63,42
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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EUR 70,04
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 378 pages. 9.21x6.14x1.02 inches. In Stock.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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EUR 96,71
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 54,50
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 130,86
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 138,07
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 132,04
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EUR 146,99
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 150,95
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 130,86
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Advanced Vlsi Design and Testability Issues
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 196,29
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In den WarenkorbKartoniert / Broschiert. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Suman Lata Tripathi is associated with Lovely Professional University, Phagwara, Punjab, as Professor with more than seventeen years of experience in academics. Her area of expertise includes microelectronics device modeling and characterization, low pow.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This bookfacilitates the VLSI-interestedindividuals with not only in-depth knowledge, but also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields, includingimage processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you the power to develop a new application aspect, which is very well taken care of in this book by using simple language in explaining the concepts. In the VLSI world, the importance of hardware description languages cannot be ignored, as the designing of such dense and complex circuits is not possible without them. Both Verilog and VHDL languages are used here for designing. The current needs of high-performance integrated circuits (ICs) including low power devices and new emerging materials, which can play a very important role in achieving new functionalities, are the most interesting part of the book. The testing of VLSI circuits becomes more crucial than the designing of the circuits in this nanometer technology era. The role of fault simulation algorithms is very well explained, and its implementation using Verilog is the key aspect of this book. This book is well organized into 20 chapters. Chapter 1 emphasizes on uses of FPGA on various image processing and biomedical applications. Then, the descriptions enlighten the basic understanding of digital design from the perspective of HDL in Chapters 2-5. The performance enhancement with alternate material or geometry for silicon-based FET designs is focused in Chapters 6 and 7. Chapters 8 and 9 describe the study of bimolecular interactions with biosensing FETs. Chapters 10-13 deal with advanced FET structures available in various shapes, materials such as nanowire, HFET, and their comparison in terms of device performance metrics calculation. Chapters 14-18 describe different application-specific VLSI design techniques and challenges for analog and digital circuit designs. Chapter 19 explains the VLSI testability issues with the description of simulation and its categorization into logic and fault simulation for test pattern generation using Verilog HDL. Chapter 20 deals with a secured VLSI design with hardware obfuscation by hiding the IC's structure and function, which makes it much more difficult to reverse engineer. 380 pp. Englisch.
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Advanced VLSI Design and Testability Issues
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 62,00
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - This bookfacilitates the VLSI-interestedindividuals with not only in-depth knowledge, but also the broad aspects of it by explaining its applications in different fields, includingimage processing and biomedical. The deep understanding of basic concepts gives you the power to develop a new application aspect, which is very well taken care of in this book by using simple language in explaining the concepts. In the VLSI world, the importance of hardware description languages cannot be ignored, as the designing of such dense and complex circuits is not possible without them. Both Verilog and VHDL languages are used here for designing. The current needs of high-performance integrated circuits (ICs) including low power devices and new emerging materials, which can play a very important role in achieving new functionalities, are the most interesting part of the book. The testing of VLSI circuits becomes more crucial than the designing of the circuits in this nanometer technology era. The role of fault simulation algorithms is very well explained, and its implementation using Verilog is the key aspect of this book. This book is well organized into 20 chapters. Chapter 1 emphasizes on uses of FPGA on various image processing and biomedical applications. Then, the descriptions enlighten the basic understanding of digital design from the perspective of HDL in Chapters 2-5. The performance enhancement with alternate material or geometry for silicon-based FET designs is focused in Chapters 6 and 7. Chapters 8 and 9 describe the study of bimolecular interactions with biosensing FETs. Chapters 10-13 deal with advanced FET structures available in various shapes, materials such as nanowire, HFET, and their comparison in terms of device performance metrics calculation. Chapters 14-18 describe different application-specific VLSI design techniques and challenges for analog and digital circuit designs. Chapter 19 explains the VLSI testability issues with the description of simulation and its categorization into logic and fault simulation for test pattern generation using Verilog HDL. Chapter 20 deals with a secured VLSI design with hardware obfuscation by hiding the IC's structure and function, which makes it much more difficult to reverse engineer.
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