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core test wrapper handbook von silva francisco (30 Ergebnisse)
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EUR 41,65
Währung umrechnenEUR 3,43 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: 1 verfügbar
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The Core Test Wrapper Handbook
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 40,36
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The Core Test Wrapper Handbook
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 41,15
Währung umrechnenEUR 9,95 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 94,43
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale And Application Of Ieee Std. 1500 (frontiers In Electronic Testing)
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 100,71
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EUR 102,22
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 107,14
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 110,18
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 112,27
Währung umrechnenEUR 3,43 für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,83
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EUR 153,00
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 308.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 159,67
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,48
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500? (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,22
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EUR 102,10
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. The Core Test Wrapper Handbook | Rationale and Application of IEEE Std. 1500(TM) | Francisco Da Silva (u. a.) | Taschenbuch | xxix | Englisch | 2014 | Springer US | EAN 9781489987693 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 158,21
Währung umrechnenEUR 17,18 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 178,64
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In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500¿
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 122,12
Währung umrechnenEUR 62,35 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 179,48
Währung umrechnenEUR 17,18 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500 (Frontiers in Electronic Testing, 35)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 188,74
Währung umrechnenEUR 28,63 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. book.
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EUR 178,14
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
ISBN 10: 0387307516 ISBN 13: 9780387307510
Sprache: Englisch
Anbieter: Rarewaves.com UK, London, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 220,48
Währung umrechnenEUR 74,44 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbHardback. Zustand: New. 2006 ed. In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook : Rationale and Application of IEEE Std. 1500(tm)
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 247,94
Währung umrechnenEUR 63,26 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbBuch. Zustand: Neu. Neuware - In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion - a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.
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The Core Test Wrapper Handbook
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 117,69
Währung umrechnenEUR 23,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 2 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application of IEEE Std. 1500tm provides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500. This book focuses on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choices and other decisions relevant to this IEEE standard. The authors provide background information about some of the choices and decisions made throughout the design of IEEE Std. 1500. 308 pp. Englisch.
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EUR 98,54
Währung umrechnenEUR 48,99 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Guides engineers through the process of building a 1500 wrapperProvides insight into the rules and recommendations of IEEE Std. 1500 Focus on practical design considerations inherent to the application of IEEE Std. 1500 by discussing design choice.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 160,10
Währung umrechnenEUR 7,44 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 308.
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The Core Test Wrapper Handbook: Rationale and Application.
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 162,67
Währung umrechnenEUR 9,95 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 4 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 308.
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The Core Test Wrapper Handbook
Verlag: Springer US, Springer US Okt 2014, 2014
ISBN 10: 148998769X ISBN 13: 9781489987693
Sprache: Englisch
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 117,69
Währung umrechnenEUR 60,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion ¿ a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 308 pp. Englisch.
