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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 1992 IEEE International Workshop Proceedings
Verlag: IEEE Computer Society Press, Los Alamos, NM, 1993
ISBN 10: 0818628359 ISBN 13: 9780818628351
Sprache: Englisch
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EUR 26,61
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: New. No Jacket. 1st Edition. Black lettering on yellow covers. 8vo, 334pp.
