Defects advanced electronic materials (14 Ergebnisse)
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Verlag: Woodhead Publishing, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Verlag: Woodhead Publishing, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Verlag: Woodhead Publishing, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Verlag: Woodhead Publishing, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures | Jan Stehr (u. a.) | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2018 | Elsevier Inc | EAN 9780081020531 | Verantwortliche Person für die EU: Zeitfracht Medien GmbH, Ferdinand-Jühlke-Str. 7, 99095 Erfurt, produktsi…cherheit[at]zeitfracht[dot]de | Anbieter: preigu.
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2018
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Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Science, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Zustand: New. Presents an in-depth overview of both conventional bulk semiconductors and low-dimensional, novel material systems, such as 1D structures and 2D monolayers Addresses a range of defects in a variety of systems, providing a comparative appro.
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Publishing, 2018
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Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures
Chen, Weimin (Editor)/ Buyanova, Irina (Editor)/ Stehr, Jan (Editor)
Sprache: Englisch
Verlag: Woodhead Pub Ltd, 2018
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Paperback. Zustand: Brand New. 350 pages. 9.00x6.00x0.59 inches. In Stock. This item is printed on demand.
Sprache: Englisch
Verlag: Elsevier Inc Jun 2018, 2018
Serie: Buch 112 von 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures provides a comprehensive review on the recent progress in solving defect issues and deliberate defect engineering in novel material systems. It begins with…an overview of point defects in ZnO and group-III nitrides, including irradiation-induced defects, and then look at defects in one and two-dimensional materials, including carbon nanotubes and graphene. Next, it examines the ways that defects can expand the potential applications of semiconductors, such as energy upconversion and quantum processing. The book concludes with a look at the latest advances in theory. While defect physics is extensively reviewed for conventional bulk semiconductors, the same is far from being true for novel material systems, such as low-dimensional 1D and 0D nanostructures and 2D monolayers. This book fills that necessary gap. 308 pp. Englisch.
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Verlag: Elsevier Inc, 2018
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Taschenbuch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Defects in Advanced Electronic Materials and Novel Low Dimensional Structures provides a comprehensive review on the recent progress in solving defect issues and deliberate defect engineering in novel material systems. It begins with an ov…erview of point defects in ZnO and group-III nitrides, including irradiation-induced defects, and then look at defects in one and two-dimensional materials, including carbon nanotubes and graphene. Next, it examines the ways that defects can expand the potential applications of semiconductors, such as energy upconversion and quantum processing. The book concludes with a look at the latest advances in theory. While defect physics is extensively reviewed for conventional bulk semiconductors, the same is far from being true for novel material systems, such as low-dimensional 1D and 0D nanostructures and 2D monolayers. This book fills that necessary gap.
