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DEFECTS AND PROPERTIES OF SEMICONDUCTORS: Defect Engineering
Verlag: KTK Scientific Publishers, Tokyo, 1987
ISBN 10: 9027723524 ISBN 13: 9789027723529
Sprache: Englisch
Anbieter: Amnesty Bookshop, Malvern, Great Malvern, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
EUR 52,22
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In den WarenkorbHb without Dj. Zustand: Fine. First Edition. Contains nearly all the papers presented at the Symposium on "Defects and Qualities of Semiconductors" held in Tokyo in May 1984. In immaculate condition throughout. All profits to Amnesty International. Size: 15.5cm - 23.3cm with 261pp.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology)
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 75,83
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology, 3)
EUR 76,59
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In den WarenkorbZustand: New. pp. 300.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology, 3)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 77,39
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 76,10
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology, 3)
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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EUR 79,12
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology)
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Währung umrechnenKostenlos für den Versand innerhalb von/der USAAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Defects and Properties of Semiconductors : Defect Engineering
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 75,31
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In den WarenkorbPF. Zustand: New.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering
Verlag: D. Reidel Publishing Company, 2013
ISBN 10: 9401086168 ISBN 13: 9789401086165
Sprache: Englisch
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 111,25
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 272 pages. 9.02x5.99x0.62 inches. In Stock.
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EUR 68,30
Währung umrechnenEUR 70,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 5 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Defects and Properties of Semiconductors | Defect Engineering | J. Chikawa (u. a.) | Taschenbuch | 300 S. | Englisch | 2011 | Springer Netherland | EAN 9789401086165 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Defects and Properties of Semiconductors : Defect Engineering
Verlag: Springer Netherlands, Springer Netherlands, 2011
ISBN 10: 9401086168 ISBN 13: 9789401086165
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,15
Währung umrechnenEUR 62,00 für den Versand von Deutschland nach USAAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This volume contains nearly all of the papers presented at the Symposium on 'Defects and Qualities of Semiconductors' which was held in Tokyo on May 17-18, 1984, under the sponsorship of the SOCIETY OF NON-TRADITIONAL TECHNOLOGY. The Symposium was organized by the promoting committee of the research project 'Quality Developement of Semiconductors by Utilization of Crystal Defects' sponsored by the Science and Technology Agency of Japan. Defect study in semiconductor engineering started originally with seeking methods how to suppress generation of harmful defects during device processing in order to achieve a high yield of device fabrication. Recently, a new trend has appeared in which crystal defects are positively utilized to improve the device performance and reliability. A typical example is the intrinsic gettering technique for Czochralski silicon. Thus, a new term 'DEFECT ENGINEERING' was born. It is becoming more important to control density and distribution of defects than to eliminate all the defects. Very precise and deep knowledge on defects is required to establish such techniques as generation and development of defects desired depending on type of devices and degree of integration. Electrical, optical and mechanical effects of defects should be also understood correctly. Such knowledge is essential even for eliminating defects from some specified device regions. It is the time now to investigate defect properties and defect kinetics in an energetic way. From this point of view, all the speakers in this symposium were invited among the most active investigators in the field of defect engineering in Japan.
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Defects and Properties of Semiconductors: Defect Engineering (Advances in Solid State Technology)
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 321,61
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Very Good. Very Good. book.
