Emerging nanotechnologies test defect (11 Ergebnisse)
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 19 von 40. Buch 19 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Verlag: Springer 2007
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
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Verlag: Springer US, Springer US 2010
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires a…nd carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2007
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer Verlag 2008
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 2010
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Sprache: Englisch
Verlag: Copernicus, Springer US 2007
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Buch. Zustand: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowir…es and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.
