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IONIZING RADIATION EFFECTS IN MOS OXIDES (International Advances in Solid State Electronics and Technology)
Sprache: Englisch
Verlag: World Scientific Publishing Company, 2000
ISBN 10: 9810233264 ISBN 13: 9789810233266
Anbieter: StainesBook, Weybridge, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 1 von 5 Sternen
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley & Sons, Incorporated, John, 1989
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Anbieter: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Vereinigtes Königreich
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. Editor(s): Ma, T. P.; Dressendorfer, Paul V. Num Pages: 608 pages, Ill. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 244 x 168 x 37. Weight in Grams: 1006. . 1989. 1st Edition. hardcover. . . . .
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circ Circuits
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: Brand New. annotated edition. 608 pages. 9.75x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Ionizing Radiation Effects in Mos Devices and Circuits
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research.
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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Ionizing Radiation Effects in MOS Devices and Circuits (Hardcover)
Sprache: Englisch
Verlag: John Wiley & Sons Inc, New York, 1989
ISBN 10: 047184893X ISBN 13: 9780471848936
Anbieter: CitiRetail, Stevenage, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: new. Hardcover. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process-induced radiation effects in the fabrication of high-density circuits. Reviews the history of radiation-hard technology, providing background information for those new to the field. Includes a comprehensive review of the literature and an annotated listing of research activities in radiation-hardness research. The first comprehensive overview describing the effects of ionizing radiation on MOS devices, as well as how to design, fabricate, and test integrated circuits intended for use in a radiation environment. Also addresses process--induced radiation effects in the fabrication of high--density circuits. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
