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logic memory experiments using von larsen david (7 Ergebnisse)
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Logic and Memory Experiments: Using Ttl Intergrated Circuits
Anbieter: Once Upon A Time Books, Siloam Springs, AR, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Acceptable. This is a used book. It may contain highlighting/underlining and/or the book may show heavier signs of wear . It may also be ex-library or without dustjacket. This is a used book. It may contain highlighting/underlining and/or the book may show heavier signs of wear . It may also be ex-library or without dustjacket.
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Logic & memory experiments using TTL integrated circuits (Blacksburg continuing education series)
Anbieter: Jenson Books Inc, Logan, UT, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
paperback. Zustand: Good. The item is in good condition and works perfectly, however it is showing some signs of previous ownership which could include: small tears, scuffing, notes, highlighting, gift inscriptions, and library markings.
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Logic & memory experiments using TTL integrated circuits (Blacksburg continuing education series)
Anbieter: Wonder Book, Frederick, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Good. Good condition. A copy that has been read but remains intact. May contain markings such as bookplates, stamps, limited notes and highlighting, or a few light stains.
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The Bugbook I: Logic & Memory Experiments Using TTL Integrated Circuits
Anbieter: Grey Matter Books, Hadley, MA, USA
Verbandsmitglied: SNEAB
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Very Good. Volume I ONLY. Eighth printing. Text and diagrams are unmarked; pages are bright, though the page edges are age toned. The binding leans and the spine is creased. Covers are shelf rubbed and show some wear around the edges.
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Logic & memory experiments using TTL integrated circuits (Blacksburg continuing education series)
Verlag: H. W. Sams
ISBN 10: 0897040007 ISBN 13: 9780897040006
Anbieter: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Good. No Jacket. Pages can have notes/highlighting. Spine may show signs of wear. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Paperback. Zustand: new. Excellent Condition.Excels in customer satisfaction, prompt replies, and quality checks.
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The BUGBOOK 1. Logic & Memory Experiments. Using TTL Itegrated Circuits.
Sprache: Deutsch
Verlag: E&L Instruments INC:, 1974
Anbieter: NEPO UG, Rüsselsheim am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover/Paperback. Zustand: Gut. Sofort verfügbar Versand am folgenden Arbeitstag mit Rechnung daily shipping wordwide with invoice ex library aus Bibliothek Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
