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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing, 7)
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
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Zustand: New. pp. 167 1st Edition, Reprint.
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Zustand: New. pp. 168.
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 166 pages. 10.75x8.25x0.75 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Multi-Chip Module Test Strategies | Yervant Zorian | Taschenbuch | 167 S. | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461377986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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In den WarenkorbZustand: New. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 175,09
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. reprint edition. 167 pages. 10.24x7.68x0.38 inches. In Stock.
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 178,58
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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing, 7)
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Neuware - MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).
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Multi-Chip Module Test Strategies (eng)
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2). 168 pp. Englisch.
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test .
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 167.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New. Print on Demand pp. 168 68:B&W 7 x 10 in or 254 x 178 mm Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 168.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: New. PRINT ON DEMAND pp. 167.
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Multi-Chip Module Test Strategies
Buch 2 von 40: Frontiers in Electronic TestingSprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer US Okt 2012, 2012
ISBN 10: 1461377986 ISBN 13: 9781461377986
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs.Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain.Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 168 pp. Englisch.
