On line testing vlsi (29 Ergebnisse)
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Zustand: New. pp. 164.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Zustand: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicolaid…is, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . .
On Line-Testing for VLSI
Nicolaidis, Michael (Edited by)/ Zorian, Yervant (Edited by)/ Pradhan, Dhiraj K. (Edited by)
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Paperback. Zustand: Brand New. 164 pages. 11.00x8.25x0.37 inches. In Stock.
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Zustand: New. Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, and more) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. This book contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing. Editor(s): Nicolaid…is, Michael; Zorian, Yervant; Pradhan, Dhiraj K. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 164 pages, biography. BIC Classification: TJFD; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 264 x 187 x 16. Weight in Grams: 520. . 1998. Reprinted from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of c…oncurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer 1998
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurre…nt error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the design of concurrent…error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1998
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer US 1998
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Verlag: Springer 1998
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Sprache: Englisch
Verlag: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Verlag: Springer US Apr 1998 1998
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Weitere BilderSprache: Englisch
Verlag: Springer 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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Buch. Zustand: Neu. On-Line Testing for VLSI | Michael Nicolaidis (u. a.) | Buch | iv | Englisch | 1998 | Springer | EAN 9780792381327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Test functions (fault detection, diagnosis, error correction, repair, etc.) that are applied concurrently while the system continues its intended function are defined as on-line testing. In its expanded scope, on-line testing includes the… design of concurrent error checking subsystems that can be themselves self-checking, fail-safe systems that continue to function correctly even after an error occurs, reliability monitoring, and self-test and fault-tolerant designs. On-Line Testing for VLSI contains a selected set of articles that discuss many of the modern aspects of on-line testing as faced today. The contributions are largely derived from recent IEEE International On-Line Testing Workshops. Guest editors Michael Nicolaidis, Yervant Zorian and Dhiraj Pradhan organized the articles into six chapters. In the first chapter the editors introduce a large number of approaches with an expanded bibliography in which some references date back to the sixties. On-Line Testing for VLSI is an edited volume of original research comprising invited contributions by leading researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 164 pp. Englisch.
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Verlag: Springer, Springer Apr 1998 1998
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Buch 33 von 40. Buch 33 von 40 - Frontiers in Electronic Testing
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