Verlag: Springer, Berlin, Springer International Publishing, Springer, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Sprache: Englisch
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
EUR 109,94
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices.
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Verlag: Springer International Publishing, 2013
ISBN 10: 3319005324 ISBN 13: 9783319005324
Sprache: Englisch
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key c.
Verlag: Springer International Publishing, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Sprache: Englisch
Anbieter: moluna, Greven, Deutschland
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides a comprehensive summary of state-of-the-art on post-silicon validationOffers automated solutions that are systematic and cost-effective for post-silicon validation, from trace signal selection to trace data transferIllustrate key c.
Verlag: Berlin Springer International Publishing Springer Aug 2016, 2016
ISBN 10: 3319375946 ISBN 13: 9783319375946
Sprache: Englisch
Anbieter: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Deutschland
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In den WarenkorbTaschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book first provides a comprehensive coverage of state-of-the-art validation solutions based on real-time signal tracing to guarantee the correctness of VLSI circuits. The authors discuss several key challenges in post-silicon validation and provide automated solutions that are systematic and cost-effective. A series of automatic tracing solutions and innovative design for debug (DfD) techniques are described, including techniques for trace signal selection for enhancing visibility of functional errors, a multiplexed signal tracing strategy for improving functional error detection, a tracing solution for debugging electrical errors, an interconnection fabric for increasing data bandwidth and supporting multi-core debug, an interconnection fabric design and optimization technique to increase transfer flexibility and a DfD design and associated tracing solution for improving debug efficiency and expanding tracing window. The solutions presented in this book improve the validation quality of VLSI circuits, and ultimately enable the design and fabrication of reliable electronic devices. 108 pp. Englisch.
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