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Softcover. Zustand: Fair. Spuren von Feuchtigkeit / Nässe; Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Gebrochener Buchrücken. This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer, 2007
Anbieter: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Deutschland
Verbandsmitglied: GIAQ
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Anbieter: Studibuch, Stuttgart, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
hardcover. Zustand: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: brandnewtexts4sale, Houston, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: New. 3rd Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT 3rd Edition / shrink wrapped / Mint condition / ISBN-10: 3540738851 / Shipped out in one business day with free tracking.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Sprache: Englisch
Verlag: Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Anbieter: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials | Brent Fultz (u. a.) | Taschenbuch | Graduate Texts in Physics | xx | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9783642433153 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 4th edition. 784 pages. 9.25x6.10x1.65 inches. In Stock.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Spektrum, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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EUR 209,22
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Anbieter: Solr Books, Lincolnwood, IL, USA
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Zustand: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (eng)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (eng)
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italien
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EUR 102,25
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of.
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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EUR 121,13
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
EUR 77,17
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. New edition of successful, well-reviewed textbook Provides an integrated coverage of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry Shows how wave radiation probes the structure of materials Supports learning and teaching .
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of.
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Nov 2014, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Anbieter: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Deutschland
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 784 pp. Englisch.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
EUR 107,09
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Buch 38 von 126: Graduate Texts in PhysicsSprache: Englisch
Verlag: Springer, Springer Okt 2012, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 784 pp. Englisch.
