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ULSI Devices
Sprache: Englisch
Verlag: Wiley & Sons, Incorporated, John, 2000
ISBN 10: 0471240672 ISBN 13: 9780471240679
Anbieter: Better World Books: West, Reno, NV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Very Good. Former library copy. Pages intact with possible writing/highlighting. Binding strong with minor wear. Dust jackets/supplements may not be included. Includes library markings. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Sputtering and Dry Etching Technology For VLSI and ULSI Devices
Verlag: Materials Research Corporation, New York, 1985
Anbieter: Crossroad Books, Eau Claire, WI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Softcover. First Edition; First Printing. Softcover. Ex-Corporate Library copy; with typical markings. Library label on front cover and on spine tail. Light bumping on cover corners. Very light rubbed soil on covers. Light smudges on page edges. Else pages clean, but for library markings. ; B&W Photographs; TET22A; 11 x 8.5"; Ex-Library.
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New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-scale Ulsi Devices
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesAnbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesAnbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesSprache: Englisch
Verlag: William Andrew 2013-11-18, 2013
ISBN 10: 0323241433 ISBN 13: 9780323241434
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
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New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesSprache: Englisch
Verlag: William Andrew Publishing, 2013
ISBN 10: 0323241433 ISBN 13: 9780323241434
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
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New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices
Buch 55 von 393: Micro and Nano TechnologiesAnbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
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Zustand: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 744 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | A complete guide to current knowledge and future trends in ULSI devices Ultra-Large-Scale Integration (ULSI), the next generation of semiconductor devices, has become a hot topic of investigation. ULSI Devices provides electrical and electronic engineers, applied physicists, and anyone involved in IC design and process development with a much-needed overview of key technology trends in this area. Edited by two of the foremost authorities on semiconductor device physics, with contributions by some of the best-known researchers in the field, this comprehensive reference examines such major ULSI devices as MOSFET, nonvolatile semiconductor memory (NVSM), and the bipolar transistor, and the improvements these devices offer in power consumption, low-voltage and high-speed operation, and system-on-chip for ULSI applications. Supplemented with introductory material and references for each chapter as well as more than 400 illustrations, coverage includes: * The physics and operational characteristics of the different components * The evolution of device structures the ultimate limitations on device and circuit performance * Device miniaturization and simulation * Issues of reliability and the hot carrier effect * Digital and analog circuit building blocks.
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems (IEEE Press)
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
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In den WarenkorbZustand: New. Eishi, H. Ibe, Chief Researcher, Yokohama Research Laboratory, Hitachi, Ltd.Dr.Eishi Hidefumi IBE received his Ph.D degree in Nuclear Engineering from Osaka University, Japan in 1985. His expertise covers a wide area of science, such as elementary particle/.
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ULSI Devices
Anbieter: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Vereinigtes Königreich
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Environmental Radiation Effects in Ulsi Devices and Electronic Systems
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
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ULSI Devices (eng)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices | Zeev Zalevsky (u. a.) | Taschenbuch | Englisch | 2013 | Elsevier Science | EAN 9780323241434 | Verantwortliche Person für die EU: Zeitfracht Medien GmbH, Ferdinand-Jühlke-Str. 7, 99095 Erfurt, produktsicherheit[at]zeitfracht[dot]de | Anbieter: preigu.
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems (Hardcover)
Sprache: Englisch
Verlag: John Wiley & Sons Inc, New York, 2015
ISBN 10: 1118479297 ISBN 13: 9781118479292
Anbieter: CitiRetail, Stevenage, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbHardcover. Zustand: new. Hardcover. This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions. Readers will learn how to make numerical models from physical insights, to determine the kind of mathematical approaches that should be implemented to analyze radiation effects. A wide variety of prediction, detection, characterization and mitigation techniques against soft-errors are reviewed and discussed. The author shows how to model sophisticated radiation effects in condensed matter in order to quantify and control them, and explains how electronic systems including servers and routers are shut down due to environmental radiation. Provides an understanding of how electronic systems are shut down due to environmental radiation by constructing physical models and numerical algorithmsCovers both terrestrial and avionic-level conditionsLogically presented with each chapter explaining the background physics to the topic followed by various modelling techniques, and chapter summaryWritten by a widely-recognized authority in soft-errors in electronic devicesCode samples available for download from the Companion Website This book is targeted at researchers and graduate students in nuclear and space radiation, semiconductor physics and electron devices, as well as other areas of applied physics modelling. Researchers and students interested in how a variety of physical phenomena can be modelled and numerically treated will also find this book to present helpful methods. This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Ulsi Devices
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Ulsi Devices
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Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
Anbieter: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Deutschland
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Buch. Zustand: Neu. Neuware - This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions. Readers will learn how to make numerical models from physical insights, to determine the kind of mathematical approaches that should be implemented to analyze radiation effects. A wide variety of prediction, detection, characterization and mitigation techniques against soft-errors are reviewed and discussed. The author shows how to model sophisticated radiation effects in condensed matter in order to quantify and control them, and explains how electronic systems including servers and routers are shut down due to environmental radiation.\* Provides an understanding of how electronic systems are shut down due to environmental radiation by constructing physical models and numerical algorithms\* Covers both terrestrial and avionic-level conditions\* Logically presented with each chapter explaining the background physics to the topic followed by various modelling techniques, and chapter summary\* Written by a widely-recognized authority in soft-errors in electronic devices\* Code samples available for download from the Companion WebsiteThis book is targeted at researchers and graduate students in nuclear and space radiation, semiconductor physics and electron devices, as well as other areas of applied physics modelling. Researchers and students interested in how a variety of physical phenomena can be modelled and numerically treated will also find this book to present helpful methods.
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ULSI Devices
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. Ultra-large scale integrated (ULSI) circuits are the next generation of semiconductor devices to follow the very large scale integrated (VLSI) circuits. This volume brings together researchers in the field to write a chapter on their own area of expertise. Editor(s): Chang, C.Y.; Sze, Simon M. Num Pages: 744 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly; (UU) Undergraduate. Dimension: 233 x 162 x 39. Weight in Grams: 1220. . 2000. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. the production standard and component chapters is characteristically high (Contemporary Physics, Vol.42, No. 4 2001)C. Y. CHANG, PhD, is a National Chair Professor at the National Chiao Tung University in Hsinchu, Taiwan.S. M. SZE, PhD, is UMC Chair P.
