Vlsi soc design reliability security (21 Ergebnisse)
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Verlag: Springer 2018
Serie: IFIP Advances in Information and Communication Technology, Buch 143 von 292. Buch 143 von 292 - IFIP Advances in Information and Communication Technology
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VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power: 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers (IFIP Advances in Information and Communication Technology)
Shin, Youngsoo (Editor) / Tsui, Chi Ying (Editor) / Kim, Jae-Joon (Editor) / Choi, Kiyoung (Editor) / Reis, Ricardo (Editor)
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, held in Daejeon, Korea, in October 2015. The 10 papers included in th…e book were carefully reviewed and selected from the 44 full papers presented at the conference. The papers cover a wide range of topics in VLSI technology and advanced research. They address the current trend toward increasing chip integration and technology process advancements bringing about new challenges both at the physical and system-design levels, as well as in the test of these systems.
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Buch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, held in Daejeon, Korea, in October 2015. The 10 papers included in the book…were carefully reviewed and selected from the 44 full papers presented at the conference. The papers cover a wide range of topics in VLSI technology and advanced research. They address the current trend toward increasing chip integration and technology process advancements bringing about new challenges both at the physical and system-design levels, as well as in the test of these systems.
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Taschenbuch. Zustand: Neu. VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power | 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, Daejeon, Korea, October 5-7, 2015, Revised Selected Papers | Youngsoo Shin (u. a.) | Taschenbuch | IFIP Advances in Information and Communication T…echnology | xiii | Englisch | 2018 | Springer | EAN 9783319834405 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Buch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book contains extended and revised versions of the best papers presented at the 23rd IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2015, held in Daejeon, Korea, in October 2015. The 10 papers inclu…ded in the book were carefully reviewed and selected from the 44 full papers presented at the conference. The papers cover a wide range of topics in VLSI technology and advanced research. They address the current trend toward increasing chip integration and technology process advancements bringing about new challenges both at the physical and system-design levels, as well as in the test of these systems. 240 pp. Englisch.
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VLSI-SoC: Design for Reliability, Security, and Low Power
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