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Novel Applications of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials Lecture Notes in Physics, 204
Anbieter: books4less (Versandantiquariat Petra Gros GmbH & Co. KG), Welling, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Broschiert. Zustand: Gut. 183 Seiten; Das hier angebotene Buch stammt aus einer teilaufgelösten Bibliothek und kann die entsprechenden Kennzeichnungen aufweisen (Rückenschild, Instituts-Stempel.); der Buchzustand ist ansonsten ordentlich und dem Alter entsprechend gut. In ENGLISCHER Sprache. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 325.
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Soft X-Ray Spectromicroscopy: Materials Characterization on a Microscale
Verlag: Lawrence Berkeley National Laboratory, 1997
Anbieter: Diatrope Books, Berkeley, CA, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Paperback. Zustand: Very Good. Unmarked text. Back cover flap inside contains various loose papers that summarize the spectromicroscopy facilities of the Advanced Light Source (ALS) at the Lawrence Berkeley National Laboratory. Book offers an overview of synchrotron radiation, Spectroscopy and Spectromicroscopy at ALS. Bibliography. 46+pp.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-Ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials
Anbieter: Anybook.com, Lincoln, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. No dust jacket. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,500grams, ISBN:3540133593.
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Novel application of anomalous (resonance) X-ray scattering for structural characterization of disordered materials. Lecture notes in physics; 204.
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-00467 3540133593 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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Recent Advances in X-Ray Characterization of Materials (Progress in Crystal Growth and Characterization, Volume 14)
Verlag: Pergamon Press, 1987
Anbieter: BookDepart, Shepherdstown, WV, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Hardcover. Zustand: UsedVeryGood. Hardcover; light fading, shelf wear to exterior; corners bumped; previous owner's stamping on back of title page; otherwise in very good condition with clean text and tight binding.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics, 204)
Anbieter: California Books, Miami, FL, USA
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Zustand: New.
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X-Ray Fluorescence Spectrometry and Its Applications to Archaeology: An Illustrated Guide (Materials Characterization and Analysis Collection)
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
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In den WarenkorbZustand: New. 2018. paperback. . . . . .
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X-ray Characterization of Nanostructured Energy Materials by Synchrotron Radiation
Anbieter: Majestic Books, Hounslow, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New.
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paperback. Zustand: Good. exlibrary book rebound to a hardcover, usual library markings and stickers, light wear to cover and pages;
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X-Ray Fluorescence Spectrometry and Its Applications to Archaeology: An Illustrated Guide (Materials Characterization and Analysis Collection)
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. 2018. paperback. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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X-RAY CHARACTERIZATION OF NANOSTRUCTURED ENERGY MATERIALS BY SYNCHOROTRON RADIATION (HB 2018)
Anbieter: Basi6 International, Irving, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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X-ray Characterization of Nanostructured Energy Materials by Synchrotron Radiation
Anbieter: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Deutschland
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics, 204)
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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X-RAY CHARACTERIZATION OF NANOSTRUCTURED ENERGY MATERIALS BY SYNCHOROTRON RADIATION (HB 2018)
Anbieter: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 57,05
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In den WarenkorbPF. Zustand: New.
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High-z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials, bearbeitet von H. Araki, J. Ehlers, K. Hepp, R. Kippenhahn, H.A. Weidenmüller und J. Zittartz
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer (= Lecture Notes in Physics, Band 204) 1984, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: Antiquariat Orban & Streu GbR, Frankfurt am Main, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Erstausgabe
Erstausgabe, 8°, 183 S., mit zahlreichen s/w-Abbildungen, Text: englisch, farbig illustr. original Kartonage (Paperback), Namens- und Datumsvermerk auf der Titelseite, innen leichte papierbedingte Nachdunklung, sonst ein schönes, sauberes Exemplar. Abholung im Ladengeschäft in Frankfurt am Main (Nordend ggü. Musterschule) möglich. Das spart die Portokosten. Pickup at the store in Frankfurt am Main (Nordend, close to Musterschule) is possible. It saves the shipping costs.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for Structural Characterization of Disordered Materials.
Sprache: Englisch
Verlag: Berlin, Springer Berlin Heidelberg, 1984
ISBN 10: 3540133593 ISBN 13: 9783540133599
Anbieter: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Deutschland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Softcover. 186 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. 3540133593 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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High-z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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High-Z Materials for X-ray Detection: Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. In.
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High-z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New.
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Novel Application of Anomalous (Resonance) X-ray Scattering for structural Characterization of Disordered Materials (Lecture Notes in Physics)
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. spiral-bound edition. 192 pages. 9.26x6.11x0.45 inches. In Stock.
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High-z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
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In den WarenkorbZustand: New.
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Zustand: New. 1st ed. 2023 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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High-z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 80,18
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High-z Materials for X-ray Detection : Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
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Internationale AusgabeX-RAY CHARACTERIZATION OF NANOSTRUCTURED ENERGY MATERIALS BY SYNCHOROTRON RADIATION (HB 2018)
Anbieter: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Vereinigtes Königreich
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High-z Materials for X-ray Detection: Material Properties and Characterization Techniques
Anbieter: Revaluation Books, Exeter, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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In den WarenkorbPaperback. Zustand: Brand New. 255 pages. 9.25x6.10x0.54 inches. In Stock.
