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yield variability optimization integrated von jian cheng (15 Ergebnisse)
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 111,75
Währung umrechnenEUR 5,74 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 112,58
Währung umrechnenEUR 14,97 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 10 verfügbar
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 127,01
Währung umrechnenEUR 17,28 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 151,64
Währung umrechnenEUR 2,00 für den Versand von Irland nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . .
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,69
Währung umrechnenEUR 64,84 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: Mehr als 20 verfügbar
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 103,69
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits (Hardcover)
Verlag: Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Sprache: Englisch
Anbieter: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 105,38
Währung umrechnenEUR 64,84 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: new. Hardcover. This text deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. It describes a spectrum of different statistical circuit design problems, such as parametric yield optimization, generalized on-target design, variability minimization, performance tuning, and worst-case design. It also covers such topics as device statistical and worst-case modelling, design of experiments and factor screening, together with some basic tenets of fuzzy set theory and multi-objective statistical optimization. Several practical examples are used to familiarize the reader with the concepts, and demonstrate the applicability of various statistical circuit design methodologies. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers, and the methodologies described provide an understanding of the complex problems of statistical circuit design, thus helping to enhance the overall quality of the ICs delivered to the customers. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Sprache: Englisch
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 190,61
Währung umrechnenEUR 1,90 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
EUR 162,66
Währung umrechnenEUR 28,82 für den Versand von Vereinigtes Königreich nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbPaperback. Zustand: Like New. Like New. book.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: GreatBookPrices, Columbia, MD, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 194,91
Währung umrechnenEUR 17,28 für den Versand von USA nach DeutschlandAnzahl: 15 verfügbar
In den WarenkorbZustand: As New. Unread book in perfect condition.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits (Hardcover)
Verlag: Kluwer Academic Publishers, Dordrecht, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Sprache: Englisch
Anbieter: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australien
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
EUR 208,54
Währung umrechnenEUR 31,99 für den Versand von Australien nach DeutschlandAnzahl: 1 verfügbar
In den WarenkorbHardcover. Zustand: new. Hardcover. This text deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. It describes a spectrum of different statistical circuit design problems, such as parametric yield optimization, generalized on-target design, variability minimization, performance tuning, and worst-case design. It also covers such topics as device statistical and worst-case modelling, design of experiments and factor screening, together with some basic tenets of fuzzy set theory and multi-objective statistical optimization. Several practical examples are used to familiarize the reader with the concepts, and demonstrate the applicability of various statistical circuit design methodologies. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers, and the methodologies described provide an understanding of the complex problems of statistical circuit design, thus helping to enhance the overall quality of the ICs delivered to the customers. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.
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EUR 92,27
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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