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yield variability optimization integrated von jian cheng (12 Ergebnisse)
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, USA
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Ria Christie Collections, Uxbridge, Vereinigtes Königreich
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Chiron Media, Wallingford, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., 1995
ISBN 10: 146135935X ISBN 13: 9781461359357
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: THR; TJFC. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 235 x 155 x 13. Weight in Grams: 397. . 1995. Softcover reprint of the original 1st ed. 1995. Paperback. . . . .
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Anbieter: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irland
Verkäuferbewertung 5 von 5 Sternen
Zustand: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . .
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Springer-Verlag New York Inc., 2012
ISBN 10: 146135935X ISBN 13: 9781461359357
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: THR; TJFC. Category: (G) General (US: Trade). Dimension: 235 x 155 x 13. Weight in Grams: 397. . 1995. Softcover reprint of the original 1st ed. 1995. Paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Sprache: Englisch
Verlag: Kluwer Academic Publishers, 1995
ISBN 10: 0792395514 ISBN 13: 9780792395515
Anbieter: Kennys Bookstore, Olney, MD, USA
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
Zustand: New. Deals with the primary and theoretical and practical aspects of IC statistical design and covers the important issues of IC statistical design and the relevant mathematical framework. This book is intended as introductory reference material for various groups of IC designers. Num Pages: 234 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 15. Weight in Grams: 542. . 1995. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Anbieter: Mispah books, Redhill, SURRE, Vereinigtes Königreich
Verkäuferbewertung 4 von 5 Sternen
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In den WarenkorbZustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
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In den WarenkorbGebunden. Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances oft.
