Automated Inspection and Measurement (Proceedings of Spie)

Chen, Michael J. W. (Editor); Vercruyssen, M.; Luck, Randall L.; Porquet, C.; et.al.

ISBN 10: 089252765X ISBN 13: 9780892527656
Verlag: SPIE PRESS-The International Society for Optical Engineering; Society of Photo Optical, Bellingham, WA, U.S.A., 1987
Sprache: Englisch
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