Testing of Digital Systems (Hardcover)

Sprache: Englisch

Verlag: Cambridge University Press, Cambridge, 2003

0521773563 / 9780521773560

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Hardcover. Device testing represents the single largest manufacturing expense in the semiconductor industry, costing over USD40 billion a year. The most comprehensive and wide ranging book of its kind, Testing of Digital Systems covers everything you need to know about this vitally important subject. Starting right from the basics, the authors take the reader through automatic test pattern generation, design for testability and built-in self-test of digital circuits before moving on to more advanced topics such as IDDQ testing, functional testing, delay fault testing, memory testing, and fault diagnosis. The book includes detailed treatment of the latest techniques including test generation for various fault models, discussion of testing techniques at different levels of integrated circuit hierarchy and a chapter on system-on-a-chip test synthesis. Written for students and engineers, it is both an excellent senior/graduate level textbook and a valuable reference. A book on the testing of semiconductor devices and systems. This item is printed on demand. Shipping may be from our Sydney, NSW warehouse or from our UK or US warehouse, depending on stock availability.…

Bestandsnummer des Verkäufers 9780521773560

Titel
Testing of Digital Systems (Hardcover)
Autor
N.K. Jha
Verlag
Cambridge University Press, Cambridge
Erscheinungsjahr
2003
Zustand
new
Einband
Hardcover
Sprache
Englisch
ISBN-10
0521773563
ISBN-13
9780521773560
Auflage
1. Auflage

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