1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband besto�en, daher M�ngelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch. Bestandsnummer des Verk�ufers 6394VB

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Bibliografische Details

Titel: VLSI Test Principles and Architectures: ...

Verlag: Morgan Kaufmann.

Erscheinungsdatum: 2006

Einband: Hardcover

Auflage: 1. Auflage

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe:

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

�ber die Autorinnen und Autoren:

Laung-Terng Wang, Ph.D., is founder, chairman, and chief executive officer of SynTest Technologies, CA. He received his EE Ph.D. degree from Stanford University. A Fellow of the IEEE, he holds 18 U.S. Patents and 12 European Patents, and has co-authored/co-edited two internationally used DFT textbooks- VLSI Test Principles and Architectures (2006) and System-on-Chip Test Architectures (2007).

Kwang-Ting (Tim) Cheng, Ph.D., is a Professor and Chair of the Electrical and Computer Engineering Department at the University of California, Berkeley. A Fellow of the IEEE, he has published over 300 technical papers, co-authored three books, and holds 11 U.S. Patents.

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