Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)

Pineda de Gyvez, Jos�

ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Verlag: Springer, 1992
Sprache: Englisch
Zustand: Gebraucht - Gut Hardcover

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