Structural Analysis of Point Defects in Solids: An Introduction to Multiple Magnetic Resonance Spectroscopy (Springer Series in Solid-State Sciences, Band 43) - Softcover
Inhaltsangabe
Structural Analysis of Point Defects in Solids provides a comprehensive introduction to the principles and techiques of modern electron paramagnetic resonance spectroscopy applied to the determination of microscopic defect structures. It informs the nonspecialist about the potential of the different methods, while the researcher faced with the task of determining defect structures will find here the necessary tools. The book will be useful for materials scientists working in semiconductor physics, laser physics, radiation damage, etc., and also for mineralogists and solid state chemists.
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Structural Analysis of Point Defects in Solids
Verlag:
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Strutural Analysis of Point Defects in Solids introduces theprinciples and techniques of modern electron paramagneticresonance (EPR) spectroscopy essentialfor applications tothe determination of microscopic defectstructures. Investigations of the microscopic and electronicstructure, and also correlations with themagnetic propertiesof solids, require various multiplemagnetic resonance methods, such as ENDOR and opticallydetected EPR or ENDOR. This book discusses experimental,technological and theoretical aspects of these techniquescomprehensively, from a practical viewpoint, with manyillustrative examples taken from semiconductors and othersolids. The nonspecialist is informed about the potential ofthe different methods, while the researcher faced with thetask of determining defect structures isprovided with thenecessary tools, together with much information oncomputer-aided methods of data analysis and the principlesof modern spectrometer design. 384 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9783642844072
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Zustand: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Strutural Analysis of Point Defects in Solids introduces theprinciples and techniques of modern electron paramagneticresonance (EPR) spectroscopy essentialfor applications tothe determination of microscopic defectstructures. Investigations. Bestandsnummer des Verkäufers 5072082
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ISBN 10: 3642844073
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Taschenbuch. Zustand: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Strutural Analysis of Point Defects in Solids introduces theprinciples and techniques of modern electron paramagneticresonance (EPR) spectroscopy essentialfor applications tothe determination of microscopic defectstructures. Investigations of the microscopic and electronicstructure, and also correlations with themagnetic propertiesof solids, require various multiplemagnetic resonance methods, such as ENDOR and opticallydetected EPR or ENDOR. This book discusses experimentaltechnological and theoretical aspects of these techniquescomprehensively, from a practical viewpoint, with manyillustrative examples taken from semiconductors and othersolids. The nonspecialist is informed about the potential ofthe different methods, while the researcher faced with thetask of determining defect structures isprovided with thenecessary tools, together with much information oncomputer-aided methods of data analysis and the principlesof modern spectrometer design.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 384 pp. Englisch. Bestandsnummer des Verkäufers 9783642844072
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Strutural Analysis of Point Defects in Solids introduces theprinciples and techniques of modern electron paramagneticresonance (EPR) spectroscopy essentialfor applications tothe determination of microscopic defectstructures. Investigations of the microscopic and electronicstructure, and also correlations with themagnetic propertiesof solids, require various multiplemagnetic resonance methods, such as ENDOR and opticallydetected EPR or ENDOR. This book discusses experimental,technological and theoretical aspects of these techniquescomprehensively, from a practical viewpoint, with manyillustrative examples taken from semiconductors and othersolids. The nonspecialist is informed about the potential ofthe different methods, while the researcher faced with thetask of determining defect structures isprovided with thenecessary tools, together with much information oncomputer-aided methods of data analysis and the principlesof modern spectrometer design. Bestandsnummer des Verkäufers 9783642844072
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Taschenbuch. Zustand: Neu. Structural Analysis of Point Defects in Solids | An Introduction to Multiple Magnetic Resonance Spectroscopy | Johann-Martin Spaeth (u. a.) | Taschenbuch | XI | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9783642844072 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand. Bestandsnummer des Verkäufers 106331093
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