Titel: CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Frontiers in Electronic Testing, 40)
Verlag: Springer
Erscheinungsjahr: 2008
Sprache: Englisch
ISBN-10: 1402083629
ISBN-13: 9781402083624
Einband: hardcover
Zustand: As New

�ber diesen Titel

Inhaltsangabe

The monograph will be dedicated to SRAM (memory) design and test issues in nano-scaled technologies by adapting the cell design and chip design considerations to the growing process variations with associated test issues. Purpose: provide process-aware solutions for SRAM design and test challenges.

�ber die Autorin bzw. den Autor

Prof. Sachdev has authored several successful books with Springer

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