Power-Constrained Testing of VLSI Circuits

Buch 11 von 40: Frontiers in Electronic Testing

Bashir M. Al-Hashimi

ISBN 10: 1441953159 ISBN 13: 9781441953155
Verlag: Springer US Dez 2010, 2010
Sprache: Englisch
Zustand: Neu Softcover

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